"VLSI III: Testen und Fabrikation von hochintegrierten Schaltungen"
"VLSI III: Test and Fabrication of VLSI Circuits"
Felber N., Kaeslin H., Gürkaynak F.
Die letzte der drei Lehrveranstaltungen behandelt die Herstellung von integrierten Schaltungen (IC), die dabei möglicherweise auftretenden Defekte, sowie vor allem Verfahren und Werkzeuge zum Erkennen von Entwurfsfehlern und Fabrikationsdefekten.
This last course in our VLSI series is concerned with the manufacturing of integrated circuits (IC), with defects that may occur during the process, and ---above all--- with the methods and tools for detecting design flaws and fabrication defects.
Elektroniker, Nachrichtentechniker, Computerarchitekten, Informatiker, Physiker, mit Interesse an elektronischer Hardware, digitalen Systemen, integrierten Schaltungen, automatischen Prüf- und Messverfahren oder an CMOS Halbleitertechnik und -produktion.
Electronics and telecommunication engineers, computer architects, information scientists, and physicists interested in electronic hardware, digital systems, integrated circuits, automated test and measurement procedures, or CMOS semiconductor technology and manufacturing.
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