| Title: |
Patents Method for Testing Integrated Circuits |
| Owner: |
Philips Semiconductors |
| Inventors: |
Norbert Felber, Hubert Kaeslin |
| Patent No.: |
00124076.1 Patent Application |
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| Title: |
Verfahren zum Betrieb einer Parallelanordnung von Leistungshalbleiterschaltern (Method to operate parallel-connected power semiconductor devices) |
| Owner: |
Concept AG |
| Inventors: |
Jan Thalheim, Heinz Rüedi (Concept) |
| Patent No.: |
PCT / IB00 / 00277 Patent Application |
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| Title: |
Verfahren und Vorrichtung zur zustandsabhängigen Regelung des transienten Verhaltens von Leistungshalbleiterschaltern (Method and device for controlling the transient behavior of power semiconductor devices) |
| Owner: |
Concept AG |
| Inventors: |
Jan Thalheim |
| Patent No.: |
PCT / IB00 / 00949 Patent Application |
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| Title: |
Verfahren zur dynamischen Symmetrisierung von reihen- und parallelgeschalteten Leistungshalbleiterschaltern (Method of synchronizing the dynamic load of series- and parallel-connected power semiconductor devices) |
| Owner: |
Concept AG |
| Inventors: |
Jan Thalheim |
| Patent No.: |
PCT / IB00 / 01968 Patent Application |
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